Sabemos que osciloscópio é uma das mais poderosas ferramentas de ensino nas escolas técnicas e mesmo nas escolas de nível médio dentro do programa de ensino de tecnologia (STEM). Com sua ajuda podemos programar diversos experimentos de física, eletricidade, e mesmo de outras ciências e agora de uma forma mais completa se acrescentarmos a isso tudo aplicativos disponíveis para celulares. Neste artigo damos um exemplo, de experimento que pode ser realizado com a ajuda de um osciloscópio, em especial, os modelos InfiniiVision série 2000X e 3000X da Keysight.
Os transistores unijunção são ainda muito utilizados quando se deseja um sinal de baixas frequências, pulsos ou um circuito de temporização.
As características de resistência negativa desse componente podem ser visualizadas com facilidade num experimento simples, utilizando o osciloscópio.
Neste experimento, o que fazemos é visualizar a curva de operação de um transistor unijunção e analisar valores típicos de tensão que ocorrem no seu funcionamento.
Para esse experimento necessitamos do seguinte material:
- Um osciloscópio, como o indicado na introdução.
- Um transistor unijunção, por exemplo, o tipo mais comum que é o 2N2646.
- Um resistor de 1 k ohms x 1/8 W
- Um resistor de 10 a 47 ohms x 1/8 W
- Uma fonte de alimentação contínua de 9 V ou uma bateria de 9 V
- Uma fonte variável de tensão alternada até 12 V ou uma fonte fixa com um potenciômetro divisor na saída.
Na figura 1 temos o arranjo dos componentes para a realização deste experimento.
Procedimento:
- Ajuste o osciloscópio para EXT de modo a se obter o sincronismo externo.
- Coloque os dois canais para operar com tensões ou sinais contínuos, ou seja, coloque em DC.
- Posicione a imagem obtida na tela para o centro.
Ajuste a tensão da fonte de corrente alternada até obter a imagem mostrada na figura 1.
Análise:
O transistor unijunção tem uma característica de resistência negativa que se revela na figura apresentada na tela.
Analise os valores dos pontos principais desta curva e faça sua interpretação, procurando associá-los às características do transistor utilizado no experimento, obtidas de sua folha de dados.
