Novo Wireless Test System baseado em PXI e otimizado para velocidade multiplica produtividade nas fábricas
A NI é fornecedora de sistemas baseados em plataforma que capacitam engenheiros e cientistas a solucionar os maiores desafios do mundo da engenharia, lançou hoje o Wireless Test System (WTS), uma solução que reduz expressivamente o custo do teste das linhas de produção de alto volume. Embora tenham que lidar com o aumento da complexidade do teste de tecnologia sem fio, as empresas podem reduzir com segurança o custo do teste e multiplicar a produtividade no chão da fábrica com um sistema otimizado para medição de velocidade e teste paralelo.
“Megatendências, como a Internet das Coisas (IoT), contribuirá para que mais dispositivos incluam funções de sensores e RF, que têm sido tradicionalmente dispendiosos para testar. No entanto, o custo do teste não deve limitar a inovação ou a viabilidade econômica de um produto,” afirmou Olga Shapiro, gerente do programa de medição e instrumentação da Frost & Sullivan. “Para continuar sendo lucrativas no futuro, as empresas precisarão repensar suas abordagens para o teste de dispositivos sem fio e adotar novos paradigmas. Como o WTS é criado sobre a plataforma PXI de uso comprovado na indústria e com o respaldo dos especialistas de mercado da NI, esperamos que ele tenha impacto significativo na rentabilidade da IoT.”
O WTS combina os avanços mais recentes do hardware PXI para oferecer uma plataforma exclusiva para teste de diversos padrões, diversos DUTs e diversas portas. Quando usado com um software flexível de sequenciamento de teste, como o módulo TestStand Wireless Test, os fabricantes podem melhorar significativamente a utilização do instrumento ao testar dispositivos em paralelo. O WTS integra-se facilmente a uma linha de produção com sequências de teste prontas para uso para dispositivos que usam chipsets de fornecedores como Qualcomm e Broadcom, além de controle integrado de automação remota e DUT. Com esses recursos, os clientes buscam ganhos consideráveis de eficiência de seus equipamentos de teste de RF e procuram reduzir ainda mais seu custo de teste.
"Testamos diversas tecnologias sem fio, do Bluetooth ao WiFi e GPS ao celular, todas com o mesmo equipamento usando o Wireless Test System da NI”, afirmou Markus Krauss, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. “Os WTS e os especialistas em engenharia de teste de RF da NOFFZ nos ajudaram a reduzir expressivamente o tempo de teste e o tempo que levou para termos nossos sistemas de teste prontos e em execução.”
O WTS é o sistema mais recente da NI criado com base no hardware PXI e software LabVIEW e TestStand (veja o Semiconductor Test System lançado em 2014). Com suporte para padrões de tecnologia sem fio do LTE Advanced e 802.11ac ao Bluetooth Low Energy, o WTS é projetado para a produção de teste dos pontos de acesso WLAN, aparelhos celulares, sistemas de infoentretenimento e outros dispositivos de diversos padrões que incluem padrões de navegação e conectividade sem fio de celular. A tecnologia transceptor vetorial de sinais- PXI projetado por software alojada no WTS oferece ótimo desempenho de RF na produção do ambiente de teste e uma plataforma que pode ser escalada com os novos requisitos do teste de RF.
Para consultar mais informações sobre o Wireless Test System, acesse www.ni.com/wts
