Este circuito foi encontrado numa documentação americana dos anos 80. Ele se destina ao teste de transistores e SCRs gerando sinais em quadratura para visualização de características num osciloscópio.
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Este circuito foi encontrado numa documentação americana dos anos 80. Ele se destina ao teste de transistores e SCRs gerando sinais em quadratura para visualização de características num osciloscópio.
